ASTM A790 UNS S31803 Paip Lancar Dupleks

Saiz Paip Nominal (NPS)

Diameter Luar (OD, mm)

Siri SCH

Ketebalan Dinding (WT, mm)

Panjang Sepunya (m)

Senario Aplikasi

1/2"

21.34

SCH5S,SCH10S,SCH40S/STD,SCH80S/XS

1.65,2.11,2.77,3.73

6/12

Paip instrumen-tekanan rendah, paip proses-berkaliber kecil

3/4"

26.67

SCH5S,SCH10S,SCH40S/STD,SCH80S/XS

1.65,2.11,2.87,3.91

6/12

Paip cecair tekanan sederhana dan rendah-

1"

33.40

SCH5S,SCH10S,SCH40S/STD,SCH80S/XS

1.65,2.77,3.38,4.55

6/12

Paip proses am, paip penyambung pam/injap

1-1/2"

48.26

SCH5S,SCH10S,SCH40S/STD,SCH80S/XS,SCH160

1.65,3.05,4.09,5.54,7.82

6/12

Saluran paip tekanan sederhana dan tinggi{0}}, tiub penukar haba

2"

60.33

SCH5S,SCH10S,SCH40S/STD,SCH80S/XS,SCH160

1.65,3.05,4.78,7.11,10.03

6/12

Paip proses-tekanan tinggi, saluran paip platform luar pesisir

3"

88.90

SCH10S,SCH40S/STD,SCH80S/XS,SCH160

3.05,5.49,8.74,13.49

6/12

Saluran paip penghantaran minyak dan gas, paip sistem penyahsulfuran

4"

114.30

SCH10S,SCH40S/STD,SCH80S/XS,SCH160

3.05,6.02,9.53,15.09

6/12

Saluran paip utama kimia, tiub penyahgaraman air laut

6"

168.28

SCH10S,SCH40S/STD,SCH80S/XS,SCH160

3.40,7.11,11.07,18.32

6/12

Paip proses-berkaliber besar, saluran paip bawah laut

Kategori Pemeriksaan

Perkara Teras

Standard Pemeriksaan

Kriteria Penerimaan

Tujuan Pemeriksaan

Komposisi & Mikrostruktur

Analisis komposisi spektroskopi; Struktur metalografik (nisbah fasa)

ASTM A790; ASTM E112

C Kurang daripada atau sama dengan 0.03%, Cr 21-23%, Ni 4.5-6.5%, Mo 2.5-3.5%, N 0.08-0.20%; Ferit 40-60%, tiada fasa-σ

Sahkan pematuhan bahan dan struktur mikro dupleks seimbang

Sifat Mekanikal

Ujian tegangan; Ujian kesan takuk Charpy V-(-46 darjah )

ASTM E8; ASTM A370

Kekuatan tegangan Lebih besar daripada atau sama dengan 620 MPa, kekuatan hasil Lebih besar daripada atau sama dengan 450 MPa, pemanjangan Lebih besar daripada atau sama dengan 25%; Tenaga impak Lebih besar daripada atau sama dengan 40 J

Sahkan kekuatan dan keliatan untuk aplikasi suhu-tekanan/rendah-tinggi

Rintangan Kakisan

Ujian kakisan antara butiran; Ujian kakisan lubang/celah (ASTM G48)

ASTM A262 Kaedah E; ASTM G48

Tiada retakan kakisan antara butiran; Suhu pitting kritikal Lebih daripada atau sama dengan 50 darjah

Pastikan rintangan kakisan ion klorida

Ujian Tidak{0}}memusnahkan (NDT)

Ujian hidrostatik; Ujian ultrasonik (UT); Ujian arus pusar (ET)

ASTM A790; ASTM A578; ASTM E213

Tahan pada 1.5×tekanan reka bentuk untuk Lebih daripada atau sama dengan 10s tanpa kebocoran; Temui Tahap B; Kecacatan permukaan/berhampiran-permukaan Kurang daripada atau sama dengan 0.1mm

Kesan kecacatan dalaman/permukaan dan pastikan tekanan-keselamatan galas

Dimensi & Rupa

Diameter luar/ketebalan dinding/bujur; Kualiti permukaan

ASME B36.10M; ASTM A790

Toleransi OD ±0.5mm, Toleransi WT ±10%, bujur Kurang daripada atau sama dengan 0.8%; Tiada rekahan, lipatan, parut

Menjamin keserasian pemasangan dan mengelakkan kepekatan tekanan

unsur

Julat Kandungan (berat%)

Fungsi Utama

Karbon (C)

Kurang daripada atau sama dengan 0.030

Mengurangkan pemendakan karbida dan meningkatkan rintangan kakisan

Chromium (Cr)

21.00 ~ 23.00

Membentuk filem pasif dan menahan kakisan seragam

Nikel (Ni)

4.50 ~ 6.50

Menstabilkan fasa austenit dan memastikan keliatan

Molibdenum (Mo)

2.50 ~ 3.50

Meningkatkan ketahanan terhadap kakisan pitting dan celah

Nitrogen (N)

0.08 ~ 0.20

Meningkatkan kekuatan dan rintangan kakisan, menstabilkan struktur dupleks

Mangan (Mn)

Kurang daripada atau sama dengan 2.00

Membantu dalam pembentukan austenit

Silikon (Si)

Kurang daripada atau sama dengan 1.00

Penyahoksidaan dan menguatkan matriks

Fosforus (P)

Kurang daripada atau sama dengan 0.030

Mengawal kekotoran dan mengurangkan kerapuhan

Sulfur (S)

Kurang daripada atau sama dengan 0.020

Mengurangkan kecenderungan rekahan panas

Besi (Fe)

Baki

Unsur matriks, membentuk fasa ferit